目前NI基于PXI的测试系统降低了半导体自动

NI基于PXI的测试系统降低了半导体自动化测试成本

这一基于平台的开放式方法结合了模块化仪器和系统设计软件,为射频和混合信号生产测试提供更好的解决方案

NIWeek－NI (美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，今日宣布推出NI半导体测试系统(STS)系列。这些基于PXI的自动化测试系统通过在半导体生产测试环境中引入NI和工业标准的PXI模块降低了射频和混合信号设备的测试成本。与传统半导体自动化测试设备(ATE)相比，STS前沿用户正在获益于降低的生产成本和提高的吞吐量，并且可使用相同的硬件和软件工具中进行特征性测试和生产。这可以减少数据关联的时间，进而缩短产品上市时间。

随着集成电路的复杂性呈指数增长，为从设计验证到生产线末端测试等应用提供最佳测试覆盖率的高成本效益ATE变得越来越重要， 英飞凌科技股份公司的汽车车身动力产品资深无割口直角形试样是撕裂开始和撕裂扩大的综合设计和应用工程师Hans-Peter Kreuter博士表示， 对于混合信号测试，基于PXI的STS相比传统ATE，以非常低的成本提供了最佳测试覆盖率。

STS的开放模块化架构使得工程师能够使用最前沿的PXI仪器，这是采用传统具有封闭结构的ATE无法实现的。这对于RF和混合信号测试尤其重要，因为最新半导体技术要求的测试覆盖率往往超越了传统ATE所能提供的。STS结合了TestStand测试管理软件和LabVIEW系统设计软件，具有一组针对半导体生产环境的丰富功能，包括可定制的操作界面、分选机/探针集成、具有引脚-通道映射且以设备为中心的编程、标准测试数据格式报告以及集成式多点支持。有了这些功能，工程师可以快速开发、调试和部署测试程序，缩短总体上市时间。此外，STS还具有全封闭的 零占用空间 测试头、标准的连接和对接机制，可与半导体生产测试台相集成。

随着测试系统不断更新换代，旧测试系统无法满足新的测试需求，使用传统的ATE系统需要不断更换试验车间的设备，从而导致高昂的成本，但STS的开放式PXI架构可以帮助我们保持原有的投资并在其基础上进行扩展，而不是淘汰掉那些设备， Integrated Device Technology (IDT)测试总监Glen Peer表示， 它提供了我们需要的灵活性，使我们能够根据不断提高的性能需求重新配置和扩展我们的测试平台。

STS系列包括三个不同的型号T1、T2和T4，分别可容纳一个、两个和透风、干净、无噪音四个PXI机箱。这些体积各异但却具有相同软件、仪器和互联机制的系统使得工程师能够针对各种引脚数和站点数需求进行优化。此外，STS的可扩展性使其可部署到从特征性测试到生产测试等各个过程，不仅优化了成本，而且大大简化了数据的相关性，进而缩短了产品上市时间。

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